ООО «Остек-ЭТК»
Молодогвардейская ул., д. 7, стр. 4, Москва, Россия, 121467
Тел.: +7 (495) 788-44-44, факс: +7 (495) 788-44-42,
www.ostec-group.ru, info@ostec-group.ru, etc@ostec-group.ru
ИНН 7731481052, КПП 773101001, ОГРН 5147746189058,
ОКПО 17183453

Забыли пароль?

E-mail
Для восстановления пароля введите E-mail, указанный при регистрации.
На ваш E-mail будет выслано письмо с дальнейшими инструкциями.
EN  RU
Группа Остек
Производитель
Модульность
Технологическая операция
Тип производства
Степень автоматизации

Метрологические системы серии Falcon 800 предназначены для оптической инспекции качества полупроводниковых пластин со столбиковыми контактными выводами (С4 Bumps) и контроля за их соответствием жестким размерным допускам.

Система оптического контроля Falcon 500PD обеспечивает превосходные возможности обнаружения поверхностных дефектов и повреждений, причиненных в процессе электрического и/или функционального контроля (ET), отклонений размеров и размещения столбиковых контактов, а также дефектов, связанных с разрезанием пластины.

Системы оптического контроля серии Falcon 500 предназначены для оптической инспекции качества полупроводниковых пластин до и/или после электрических/функциональных испытаний.

Цифрой акустический сканирующий микроскоп высокого разрешения D9500 предназначен для осуществления операции неразрушающего контроля и объемной визуальной инспекции изделий микроэлектроники. Благодаря использованию ультразвука становится возможным инспекция однородных материалов, корпусов с высокой толщиной стенок.

FACTS2 C-SAM® - это ультрасовременное решение для автоматического контроля качества электронных изделий и производственных процессов с помощью высокоскоростного получения акустических микроизображений высокого разрешения.

Новинка

Области применения: литографическая печать,  химико-механическая полирование (CMP), протравка,  имплантирование, эксплуатационный контроль качества (OQC)

Новинка

Компания Sonoscan взяла из своей предыдущей продукции самое лучшее (широчайший спектр возможностей, самые передовые характеристики, эргономичный и удобный дизайн для пользователя) и затем на его основе улучшила аппаратную платформу и программное обеспечение путем совмещения модуля PolyGate™ и ПО Sonolytics™ с новым и еще более удобным пользовательским интерфейсом. Микроскоп Gen6™ представляет новейшее слово техники в области получения изображений с помощью акустической микроскопии.

Новинка

Главная особенность системы – способность постоянно исследовать образец в течение всего процесса ионного травления, что позволяет автоматизировать управление точностью, качеством и результатом травления.

D9600 – современный стандарт акустических микроскопов, обеспечивающий великолепную точность и надежность, как и в предыдущих поколениях. Микроскоп обладает усовершенствованной электрической базой и программным обеспечением с использованием технологий Polygate и Sonolytics.

Система оптического контроля качества печати разработана для проверки отпечатков на слоях многослойных сырых керамических структур, таких как LTCC, HTCC, MLCC, MLCI и другие, а также может быть использована для инспекции переходных отверстий.

Тестовые системы 4060 позволяют контролировать изделия на керамической подложке. Применение линейных приводов на аэродинамических подшипниках по осям X, Y и Z и оптических датчиков с высоким разрешением, позволило получить высокие показатели точности позиционирования – пробники могут контактировать в площадки размером менее 80 мкм.

Тестовая система SPEA C600MX разработана, чтобы обеспечить высокую эффективность и высокую пропускную способность тестирования "систем на кристалле" и "система в корпусе". Большое число каналов и широкий выбор инструментов позволяет проводить многофункциональный параллельный тест,  что существенно сокращает время выхода изделия на рынок. Масштабируемая и модульная архитектура платформы позволяет Вам легко изменять и расширять конфигурацию системы с помощью различных модулей.

Тестер полупроводниковых компонентов C430MX обладает большой функциональностью в компактном экономичном тестере, специально предназначенном для снижения стоимости теста для устройств со смешанным высокочастотным сигналом и силовых устройств. В частности предназначен для пластин и финального теста устройств со смешанным сигналом, силовых устройств с цифровыми контроллерами и мощных автомобильных приложений.