Фильтр
АОИТестирование и контроль
Метрологическая система контроля полупроводниковых пластин со столбиковыми выводами Camtek Falcon 800

Метрологические системы серии Falcon 800 предназначены для оптической инспекции качества полупроводниковых пластин со столбиковыми контактными выводами (С4 Bumps) и контроля за их соответствием жестким размерным допускам.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Автоматическая система контроля разрезанных полупроводниковых пластин Camtek Falcon 500PD

Система оптического контроля Falcon 500PD обеспечивает превосходные возможности обнаружения поверхностных дефектов и повреждений, причиненных в процессе электрического и/или функционального контроля (ET), отклонений размеров и размещения столбиковых контактов, а также дефектов, связанных с разрезанием пластины.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Автоматическая система контроля полупроводниковых пластин Camtek Falcon 500

Системы оптического контроля серии Falcon 500 предназначены для оптической инспекции качества полупроводниковых пластин до и/или после электрических/функциональных испытаний.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Автоматическая система контроля полупроводниковых пластин Gannet

Области применения: литографическая печать,  химико-механическая полирование (CMP), протравка,  имплантирование, эксплуатационный контроль качества (OQC)

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Xact100 Система контроля процесса ионного травления

Главная особенность системы – способность постоянно исследовать образец в течение всего процесса ионного травления, что позволяет автоматизировать управление точностью, качеством и результатом травления.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Многофункциональные тестеры серии CT1000

Многофункциональные тестеры серии CT1000 для модулей чипкарт (CPU, память, RFID, UHF устройства)

Системы CT1000 в состоянии проверять чипкарты контактным и безконтактным методами, могут контролировать устройства с двойным интерфейсом (проверять контактные и бесконтактные чипкарты в едином тесте).

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Манипулятор H1000

H1000 – серия манипуляторов предназначенных для тестирования изделий в лентах. Они отличаются быстрой переналадкой (замена модулей согласно требованиям тестирования изделия) и высокой производительностью (до 59,000 шт/час).

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Тестовые системы 4060

Тестовые системы 4060 позволяют контролировать изделия на керамической подложке. Применение линейных приводов на аэродинамических подшипниках по осям X, Y и Z и оптических датчиков с высоким разрешением, позволило получить высокие показатели точности позиционирования – пробники могут контактировать в площадки размером менее 80 мкм.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Тестовая система SPEA C600MX

Тестовая система SPEA C600MX разработана, чтобы обеспечить высокую эффективность и высокую пропускную способность тестирования "систем на кристалле" и "система в корпусе". Большое число каналов и широкий выбор инструментов позволяет проводить многофункциональный параллельный тест,  что существенно сокращает время выхода изделия на рынок. Масштабируемая и модульная архитектура платформы позволяет Вам легко изменять и расширять конфигурацию системы с помощью различных модулей.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Производитель
Модульность
Технологическая операция
Тип производства
Степень автоматизации
Сбросить