Фильтр
Прецизионная резка и скрайбированиеУстановка компонентовУтонение, шлифование и полирование пластинПлазменная обработкаТермические процессыРазварка проволочных соединенийТестирование и контрольТрафаретная печатьДозирование и заливкаГерметизация и микросваркаКорпусирование компонентов, формовка и обрезка выводов, разделение групповых заготовокПрецизионное литье
Метрологическая система контроля полупроводниковых пластин со столбиковыми выводами Camtek Falcon 800

Метрологические системы серии Falcon 800 предназначены для оптической инспекции качества полупроводниковых пластин со столбиковыми контактными выводами (С4 Bumps) и контроля за их соответствием жестким размерным допускам.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Автоматическая система контроля разрезанных полупроводниковых пластин Camtek Falcon 500PD

Система оптического контроля Falcon 500PD обеспечивает превосходные возможности обнаружения поверхностных дефектов и повреждений, причиненных в процессе электрического и/или функционального контроля (ET), отклонений размеров и размещения столбиковых контактов, а также дефектов, связанных с разрезанием пластины.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Автоматическая система контроля полупроводниковых пластин Camtek Falcon 500

Системы оптического контроля серии Falcon 500 предназначены для оптической инспекции качества полупроводниковых пластин до и/или после электрических/функциональных испытаний.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Цифровой сканирующий акустический микроскоп высокого разрешения D9500

Цифрой акустический сканирующий микроскоп высокого разрешения D9500 предназначен для осуществления операции неразрушающего контроля и объемной визуальной инспекции изделий микроэлектроники. Благодаря использованию ультразвука становится возможным инспекция однородных материалов, корпусов с высокой толщиной стенок.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
FACTS2 C-SAM

FACTS2 C-SAM® - это ультрасовременное решение для автоматического контроля качества электронных изделий и производственных процессов с помощью высокоскоростного получения акустических микроизображений высокого разрешения.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Автоматическая система контроля полупроводниковых пластин Gannet

Области применения: литографическая печать,  химико-механическая полирование (CMP), протравка,  имплантирование, эксплуатационный контроль качества (OQC)

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Система акустической микроскопии нового поколения Gen6™ C-SAM

Компания Sonoscan взяла из своей предыдущей продукции самое лучшее (широчайший спектр возможностей, самые передовые характеристики, эргономичный и удобный дизайн для пользователя) и затем на его основе улучшила аппаратную платформу и программное обеспечение путем совмещения модуля PolyGate™ и ПО Sonolytics™ с новым и еще более удобным пользовательским интерфейсом. Микроскоп Gen6™ представляет новейшее слово техники в области получения изображений с помощью акустической микроскопии.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Система Xact100

Главная особенность системы – способность постоянно исследовать образец в течение всего процесса ионного травления, что позволяет автоматизировать управление точностью, качеством и результатом травления.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Цифровой сканирующий акустический микроскоп D9600™ C-SAM®

D9600 – современный стандарт акустических микроскопов, обеспечивающий великолепную точность и надежность, как и в предыдущих поколениях. Микроскоп обладает усовершенствованной электрической базой и программным обеспечением с использованием технологий Polygate и Sonolytics.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Система оптического контроля качества печати KVI-10

Система оптического контроля качества печати разработана для проверки отпечатков на слоях многослойных сырых керамических структур, таких как LTCC, HTCC, MLCC, MLCI и другие, а также может быть использована для инспекции переходных отверстий.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Тестовые системы 4060

Тестовые системы 4060 позволяют контролировать изделия на керамической подложке. Применение линейных приводов на аэродинамических подшипниках по осям X, Y и Z и оптических датчиков с высоким разрешением, позволило получить высокие показатели точности позиционирования – пробники могут контактировать в площадки размером менее 80 мкм.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Тестовая система SPEA C600MX

Тестовая система SPEA C600MX разработана, чтобы обеспечить высокую эффективность и высокую пропускную способность тестирования "систем на кристалле" и "система в корпусе". Большое число каналов и широкий выбор инструментов позволяет проводить многофункциональный параллельный тест,  что существенно сокращает время выхода изделия на рынок. Масштабируемая и модульная архитектура платформы позволяет Вам легко изменять и расширять конфигурацию системы с помощью различных модулей.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Тестер полупроводниковых компонентов C430MX

Тестер полупроводниковых компонентов C430MX обладает большой функциональностью в компактном экономичном тестере, специально предназначенном для снижения стоимости теста для устройств со смешанным высокочастотным сигналом и силовых устройств. В частности предназначен для пластин и финального теста устройств со смешанным сигналом, силовых устройств с цифровыми контроллерами и мощных автомобильных приложений.

Запросить Добавить в лист запросов
Характеристики
Производитель
Модульность
Технологическая операция
Тип производства
Степень автоматизации
Сбросить