Полуавтоматический сканирующий акустический микроскоп

Акустическая микроскопия нашла своё применение в полупроводниковой промышленности в качестве метода выявления дефектов выводов микросхем, пустот и расслоений при герметизации в пластик или при монтаже кристаллов, трещин и сколов на поверхности чипов и микросхем.

• Высокоэффективный неразрушающий метод исследования с высокой степенью повторяемости результатов
• Два рабочих стола для увеличения производительности установки
• Возможность установки до 4 зондов
• Простой принцип действия
• Возможность работы в ручном/автоматическим режиме
• Высокая чувствительность и точность детектирования
• Разрешающая способность: до 10 мкм
• Наличие функции многослойного сканирования
• Программное обеспечение для отображения и анализа изображений в реальном времени
• Возможность создания индивидуально изготовления надёжных влагозащищённых креплений для различных типов корпусов полупроводниковых изделий