ICP-травление широко применяется для формирования микро-/наноструктур и позволяет достигать высоких скоростей травления, селективности и минимального повреждения слоев, вызванным действием плазмы. Благодаря высокой однородности процесса (< 5 %) и возможности контроля профиля, ICP-системы ICP-SC широко применяются в травлении таких материалов, как: Si, SiO2, SiNx, металлов и соединений A3B5. ICP-травление применимо и для формирования различных микро-/наноструктур при производстве систем со сверхбольшой степенью интеграции (VLSI), МЭМС, оптических волноводов и фотоэлектронных устройств.
Особенности
Предназначена для серийного производства и НИОКР, доступна в кластерном или однокамерном исполнениях
Разработана для пластин диаметром до 200 мм. Обработка пластин Ø 100-150 мм реализована при помощи сменных комплектов оснастки рабочих модулей
Возможно различное применение, включая кремниевые, магнитные или металлические материалы и слои, а также материалы группы A3B5
Контроль однородности травления с опциями атомно-слоевого травления (ALE)
Состоит из камер ICP-травления, модулей транспортировки и загрузки пластин
Тетрагональный транспортный модуль
Полностью автоматизированная система обработки и транспортировки пластин
Высокая однородность травления диэлектрических слоёв (< 3 % по пластине и от пластины к пластине)
Возможность настройки травления диэлектрических слоёв с быстрым (> 4000 А/мин) и медленным (≤ 400 А/мин) процессами
Селективность травления:
SiO2: ФР — более 1.5:1
Si3N4 : SiO2 — более 5:1
Газовая конфигурация: F- и Cl-содержащие газы, O2, N2, Ar и и другие газы в зависимости от запроса клиента и технологического процесса
Электростатический (ESC) или механический (clamp) прижим пластин
Диапазон рабочих температур от −10 до +150 °С
Модуль контроля окончания процесса (EPD)
Система откачки рабочего модуля на базе ТМН и форвакуумного насоса